کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry اثر Paul Van der Heide انتشارات Wiley
Zoomed Image

کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry اثر Paul Van der Heide انتشارات Wiley

0% (0 نفر) از خریداران، این کالا را پیشنهاد کرده اند

برند :

متفرقه

ویژگی ها

  • نوع جلد : شومیز
  • نوع کاغذ : تحریر
  • گروه سنی : بزرگسال

مشخصات محصول

کتاب طیف‌سنجی جرمی یون‌های ثانویه: مقدمه‌ای بر اصول و کاربردها (Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices) تالیف پل ون در هاید در سال 2014 منتشر شده است. این کتاب به بررسی اصول، قابلیت‌ها و کاربردهای طیف‌سنجی جرمی یون‌های ثانویه به عنوان یک تکنیک تجزیه‌ای پیشرفته می‌پردازد. مطالب شامل مبانی فیزیکی، انواع روش‌های یون‌زایی، آماده‌سازی نمونه، تفسیر داده‌ها و کاربردهای آن در علوم مواد و زیست‌شناسی است. این کتاب برای دانشجویان و محققان حوزه‌های مرتبط توصیه می‌شود.

نویسنده

Paul Van der Heide

ناشر

Wiley

شابک

9781118480489

موضوع

طیف‌سنجی جرمی، یون‌های ثانویه

قطع

رقعی

نوع جلد

شومیز

نوع کاغذ

تحریر

تعداد صفحه

384

گروه سنی

بزرگسال

وزن

384 گرم

جهت مشاهده قیمت و خرید کلیک کنید